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产品

电子束探测器和摄像机

随着半导体结构尺寸的不断减小,需要对颗粒或图案缺陷进行替代检测。

由于光波长的限制,光学技术本质上已经不足以检测这些纳米级特征。这为 SEM 检测扫清了道路。

为了快速检测半导体行业的纳米级特征,浦卓科技开发和制造用于高速成像的先进多光束相机,以在灵敏度、分辨率和采集速度方面实现新的里程碑。

通过与客户的密切合作,我们定义下一代要求,并与传感器合作伙伴一起制定新的市场标准。我们涵盖了整个开发和制造过程。

设计能力:

  • 超高真空兼容(例如 1E-9 毫巴)
  • 超低泄漏 (<1E-9 毫巴∙升/秒) 主动冷却 真空低温冷却(例如 -20ºC) 高带宽电子设计,支持 >400Gbps
  • 包括处理硬件(图像采集卡)
  • 与专业合作伙伴合作的传感器设计
  • 大像素尺寸可实现低噪声性能,典型值>60um
  • 低暗电流
  • 高带宽 >100MHz
  • 多波束支持,>100波束
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