AI 支持的自动缺陷分类

改变半导体的检测方式

缺陷自动分类是半导体工业中一项定义明确的质量检测技术。然而，随着半导体制造的吞吐量和复杂性的增加，需要使用先进和可重复训练的AI系统来保持高质量标准，同时提高产量。

浦卓科技的AI自动缺陷分类（AI-ADC）不仅加快了质量检查过程，而且使其更加准确，适合不断变化的制造工艺。此外，这种新的AI工具甚至可以帮助管理不断增加的检测工具吞吐量和设备复杂性挑战。它可能会增加功能，同时也为半导体制造商带来价值。

AI-ADC 解决方案与 Robovision 易操作的 AI 平台配合使用，使操作员和领域专家无需代码即可快速创建和操作机器学习模型。这种强大的组合满足了各种制造应用中各种不同客户系统的需求。

由于具备了更早地检测和分类缺陷的能力，AI-ADC可以快速消除问题，减少人为错误，提高生产成品率。

无论半导体企业是首次探索人工智能，还是希望改进和更新现有系统，浦卓科技的专家团队都会与之密切合作，为特定应用设计最有效的解决方案。

作为交钥匙工程供应商，浦卓科技提供集成计算柜解决方案，不仅适合在清洁环境中使用——这是半导体行业的一个重要方面，也符合重要的行业标准，如SEMI F47，SEMI S2，SEMI S8。